高低溫測(cè)試是是產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)，高低溫測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)目前測(cè)試實(shí)驗(yàn)室主要參考GB2423標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)部分比較多，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫、低溫、恒定濕熱和交變濕熱等部分標(biāo)準(zhǔn)為測(cè)試報(bào)告參考的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。目前現(xiàn)行（2021年1月）的有關(guān)高低溫測(cè)試報(bào)告國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)明細(xì)有以下幾點(diǎn)：
GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2016  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2012  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2423.34-2012  環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

高低溫測(cè)試能夠反饋產(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ)保存，或者工作運(yùn)行的適應(yīng)性能力。有些環(huán)境下的溫度會(huì)不斷變化，時(shí)高時(shí)低。比如在有些溫差大的地區(qū)的白天黑夜。或者產(chǎn)品在運(yùn)輸、存儲(chǔ)、運(yùn)行過程中反復(fù)進(jìn)出于高溫區(qū)、低溫區(qū)。這種高低溫環(huán)境高溫時(shí)可能會(huì)達(dá)到70°C度以上甚至更高，低溫時(shí)溫度可能會(huì)達(dá)到-20°C度以下甚至更低。

這種不斷變化的溫度環(huán)境會(huì)造成產(chǎn)品的功能、性能、質(zhì)量及壽命等受到影響，會(huì)加速產(chǎn)品的老化，縮短產(chǎn)品的使用壽命。如果產(chǎn)品長(zhǎng)期處于這種大幅度交替變化的高溫、低溫環(huán)境下，則需要具備足夠的抗高低溫循環(huán)的能力。這樣我們就需要模擬一定的環(huán)境條件，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫測(cè)試，以了解產(chǎn)品在這方面的性能，如測(cè)試結(jié)果達(dá)不到我們?cè)O(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)，我們就要根據(jù)測(cè)試情況進(jìn)行產(chǎn)品改進(jìn)，然后重新測(cè)試，直至合格。

企業(yè)在設(shè)計(jì)生產(chǎn)產(chǎn)品時(shí)候會(huì)規(guī)劃考慮環(huán)境溫度變化對(duì)產(chǎn)品的使用和性能造成的影響，會(huì)根據(jù)高低溫測(cè)試國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行測(cè)試，使得產(chǎn)品質(zhì)量滿足使用運(yùn)輸?shù)刃枨?。NTEK北測(cè)集團(tuán)是專業(yè)的環(huán)境可靠性測(cè)試公司，提供可靠的高低溫測(cè)試服務(wù)，了解高低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及相關(guān)服務(wù)流程請(qǐng)咨詢NTEK北測(cè)集團(tuán)。